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Products
更新時(shí)間:2025-03-13
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產(chǎn)品介紹
數(shù)據(jù)表(中) 數(shù)據(jù)表(EN) PC-Gentec-EO用戶手冊(cè) QE用戶手冊(cè) INTEGRA用戶手冊(cè)
Gentec-EO QE65LP-S-MB-QED-D0熱釋電探測(cè)器的激光能量測(cè)量高達(dá)200 J。
使用 QED 吸收器，達(dá)到高的損壞閾值
帶有 QED 衰減器的檢測(cè)器為能量密度非常高的激光而設(shè)計(jì)。我們的QED 衰減器可擴(kuò)散測(cè)量到的光束，并在更大的體積內(nèi)吸收光束，使其幾乎堅(jiān)不可摧。
高的最大能量密度破壞閾值
激光損壞設(shè)備的風(fēng)險(xiǎn)微乎其微
特別適合高能量密度脈沖光束
INTEGRA（USB 或 RS-232）輸出選擇
當(dāng)您選擇 INTEGRA 輸出選項(xiàng)時(shí)，您將獲得集檢測(cè)器和儀表于一體的便捷的一體化測(cè)量?jī)x器產(chǎn)品。將檢測(cè)器插入電腦，安裝我們的免費(fèi)軟件，即可開始測(cè)量。
具成本效益的解決方案
與其他解決方案具有相同的測(cè)量性能
接口功能和特性不打折扣
適用于 OEM 應(yīng)用和現(xiàn)場(chǎng)維修的緊湊型解決方案
多功能儀器可節(jié)省重新校準(zhǔn)的費(fèi)用
主要特性
模塊化概念
提高檢測(cè)器的可能功率：有兩種不同的冷卻模塊
大孔徑
65 x 65 mm的有效孔徑
可獲得的QED衰減器
測(cè)量不超過(guò)5倍的更高能量。提供可選的校準(zhǔn)，所有波長(zhǎng)都在532和1064納米之間，或單一波長(zhǎng)
噪聲水平低
MB涂層10 μJ
測(cè)試目標(biāo)包括
MB 型
智能接口
包含所有的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)
產(chǎn)品規(guī)格
| 測(cè)量能力 | |
| 光譜范圍 | 0.3 - 2.1 μm |
| 典型升起時(shí)間 | 1 ms |
| 重復(fù)性 | <0.5% |
| 最大重復(fù)頻率 | 100 Hz |
| 最大可測(cè)量能量 | 200 J |
| 噪聲等效能量 | 20 μJ |
| 最大脈沖寬度 | 0.7 ms |
| 能量校準(zhǔn)不確定性 | ±3 % |
| 損壞閾 | |
| 最大平均功率密度 | 600 W/cm2 |
| 最大能量密度 | 8 J/cm2 |
| 最大功率 | 30 W |
| 物理特性 | |
| 冷卻 | 傳送 |
| 孔寬 | 62 mm |
| 孔高 | 62 mm |
| 吸收器 | QED |
| 尺寸 | 95H x 97W x 25D mm |
| 重量 | 0.44 kg |
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