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Products
更新時間:2025-03-13
瀏覽量:1362
產(chǎn)品介紹
產(chǎn)品手冊 數(shù)據(jù)表 圖紙
DataRay 的 Beam'R2 非常適合許多激光束輪廓分析應(yīng)用。Beam'R2 具有標(biāo)準(zhǔn)的 2.5 μm 狹縫和更大的刀刃狹縫，能夠測量直徑小至 2 μm 的光束。Beam'R2 提供硅和 InGaAs 或擴(kuò)展 InGaAs 選項(xiàng)，可以對 190 nm 至 2500 nm 的光束進(jìn)行剖析。掃描狹縫儀器的分辨率比基于相機(jī)的系統(tǒng)高得多。
特點(diǎn)
多種檢測器選項(xiàng)，范圍為 190 至 2500 nm
190 至 1150 nm，硅探測器
650 至 1800 nm，InGaAs 探測器
1800 至 2300/2500 nm，InGaAs（擴(kuò)展）探測器
符合 ISO 標(biāo)準(zhǔn)的光束直徑測量
端口供電的 USB 2.0
自動增益功能
用于符合 ISO 11146 標(biāo)準(zhǔn)的 M2 測量的可選載物臺附件
True2D? 狹縫
分辨率達(dá) 0.1 μm
5 Hz 更新速率（可調(diào) 2 至 10 Hz）
剖面 CW/準(zhǔn)連續(xù)波光束
光束直徑 5 μm 至 4 mm，刀鋒模式下為 2 μm
應(yīng)用實(shí)例
非常小的激光束輪廓
光學(xué)組件和儀器對準(zhǔn)
OEM 集成
鏡頭焦距測試
實(shí)時診斷對焦和對準(zhǔn)誤差
將多個裝配體實(shí)時設(shè)置為同一焦點(diǎn)
M2 測量，提供 M2DU 載物臺
True2D? 狹縫
藍(lán)寶石襯底上的 0.4 μm 厚金屬多層薄膜
與氣縫相比，具有多種優(yōu)勢
避免隧道效應(yīng)
氣縫通常比寬深，并且在高輻照度下會彎曲
規(guī)格
| 波長 |
硅探測器：190 至 1150 nm InGaAs 探測器：650 至 1800 nm Si + InGaAs 探測器：190 至 1800 nm Si + InGaAs（擴(kuò)展）探測器：190 至 2300 或 2500 nm |
| 掃描光束直徑 |
硅探測器：刀刃模式 下為 5 μm 至 4 mm' 至 2 μm InGaAs 探測器：刀刃模式 下為 10 μm 至 3 mm' 至 2 μm InGaAs（擴(kuò)展）探測器：刀刃模式下為 10 μm 至 2 mm' 至 2 μm |
| 光束腰徑測量 |
第二力矩 （4s） 直徑符合 ISO 11146;擬合高斯 &
TopHat 1/e2 （13.5%） 寬度 用戶可選擇峰值 的百分比 刀刃模式，適用于非常小的光束 |
| 測量源 | CW，準(zhǔn)CW光束 |
| 分辨率精度 |
0.1 μm 或掃描范圍 的 0.05%± <2% ± = 0.5 μm |
| 最大功率和輻照度 | 總功率 1 W & 0.5 mW/μm2 |
| 增益范圍 | 1'000：1 切換;4'096：1 ADC范圍 |
| 顯示的圖形 | X-Y 位置和輪廓的縮放 x1 到 x16 |
| 更新速率 | ~5 Hz，可塵埃 2 至 10 Hz |
| 通過/失敗顯示 | 屏幕上可選擇的通過/失敗顏色。QA和生產(chǎn)的理想選擇。 |
| 平均 | 用戶可選運(yùn)行平均值（1 至 8 個樣本） |
| 統(tǒng)計(jì)學(xué) |
最小值、最大值、平均值、較長時間的標(biāo)準(zhǔn)差 對數(shù)數(shù)據(jù) |
| XY輪廓和質(zhì)心 | 光束漂移顯示和記錄 |
| 要求 | Windows 10 64 位 |
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