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Products
更新時間:2025-03-13
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產(chǎn)品介紹
產(chǎn)品手冊 數(shù)據(jù)表 圖紙
DataRay 的 BeamMap2 代表了一種完全不同的實時波束輪廓分析方法。它擴展了 Beam'R2 的測量功能，允許在光束行程的多個位置進行測量。這種實時掃描狹縫系統(tǒng)在旋轉圓盤上的多個 Z 平面上使用 XY 狹縫對，同時測量四個不同 Z 位置的四個光束輪廓。BeamMap2 的獨特設計在實時測量焦點位置、M2、光束發(fā)散度和指向方面有利。
特點
多種檢測器選項，范圍為 190 至 2500 nm
190 至 1150 nm，硅探測器
650 至 1800 nm，InGaAs 探測器
1800 至 2300/2500 nm，InGaAs（擴展）探測器
符合 ISO 標準的光束直徑測量
端口供電的 USB 2.0
自動增益功能
用于符合 ISO 11146 標準的 M2 測量的可選載物臺附件
True2D? 狹縫
分辨率達 0.1 μm
5 Hz 更新速率（可調(diào) 2 至 10 Hz）
剖面 CW/準連續(xù)波光束
光束直徑 5 μm 至 4 mm
XYZ 輪廓，加上 θ-Φ
對焦位置和直徑
實時 M2、指向和發(fā)散測量
以 ±1 μm 的重復精度識別焦點（取決于光束）
應用實例
非常小的激光束輪廓
光學組件和儀器對準
OEM 集成
鏡頭焦距測試
實時診斷對焦和對準誤差
將多個裝配體實時設置為同一焦點
M2 測量，提供 M2DU 載物臺
True2D? 狹縫
藍寶石襯底上的 0.4 μm 厚金屬多層薄膜
與氣縫相比，具有多種優(yōu)勢
避免隧道效應
氣縫通常比寬深，并且在高輻照度下會彎曲
規(guī)格
| 波長 |
硅探測器：190 至 1150 nm InGaAs 探測器：650 至 1800 nm Si + InGaAs 探測器：190 至 1800 nm Si + InGaAs（擴展）探測器：190 至 2300 或 2500 nm |
| 掃描光束直徑 |
硅探測器：5 μm 至 4 mm InGaAs 探測器：10 μm 至 3 mm InGaAs（擴展）探測器：10 μm 至 2 mm |
| 平面間距 |
100 微米：-100、0、+100、+400 微米 250 微米：-250、0、+250、+1000 微米 500 微米：-500、0、+500、+2000 微米 750 微米：-750、0、+750、+3000 微米 |
| 光束腰徑測量 |
第二力矩 （4s） 直徑符合 ISO 11146;擬合高斯 &
TopHat 1/e2 （13.5%） 寬度 用戶可選擇峰值百分比 |
| 光束腰部位置測量 | ± X、Y 和 Z 軸中的 20 μm — 聯(lián)系 DataRay 獲取建議 |
| 測量源 | CW，準CW光束 |
| 分辨率精度 |
0.1 μm 或掃描范圍 的 0.05%± <2% ± = 0.5 μm |
| M2 尺寸 | 1 至 > 20，± 5% |
| 發(fā)散/準直、指向 | 1 mrad best — 聯(lián)系 DataRay 獲取推薦 |
| 最大功率和輻照度 | 總功率 1 W & 0.5 mW/μm2 |
| 增益范圍 | 1'000：1 切換;4'096：1 ADC范圍 |
| 顯示的圖形 | X-Y 位置和輪廓的縮放 x1 到 x16 |
| 更新速率 | ~5 Hz，可塵埃 2 至 10 Hz |
| 通過/失敗顯示 | 屏幕上可選擇的通過/失敗顏色。QA和生產(chǎn)的理想選擇。 |
| 平均 | 用戶可選運行平均值（1 至 8 個樣本） |
| 統(tǒng)計學 |
最小值、最大值、平均值、較長時間的標準差 對數(shù)數(shù)據(jù) |
| XY輪廓和質(zhì)心 | 光束漂移顯示和記錄 |
| 要求 | Windows 10 64 位 |
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